场发射扫描电镜测试
JSM-IT800具备高分辨观察和高速元素面分析,能够满足客户的各种需求。该装置配备浸没式肖特基场发射电子枪、新一代电子光学控制系统Neo Engine、一体化EDS、易用的操作导航SEM Center、及可置换的物镜模块。
一、制样要求
1、粉体样品,常规粉末直接均匀粘到导电胶上测试,如需分散后测试请提前说明;
2、液体样品,制样老师根据样品要求及实验室条件,随机选择滴到硅片上分散后烘烤。
3、薄膜或块体,请标明测试面,如需测试截面,请自行自备截面或提前说明截面制备方式。
二、样品要求
样品无形态要求
- 粉末样品要求:样品量需要提供大概5 mg
- 疏松多孔、非致密类样品等需要抽真空时间非常长。
- 需要脆断的样品要求:尺寸需要≥3*3cm,厚度<0.4cm。
三、其它要求;
1、导电性不好建议选择喷金,不喷金可能会影响拍摄效果;
问答:
- 扫描能谱采集深度?
EDS采样深度大约1um。
- 什么时候选择做二次电子和背散射?
二次电子对形貌敏感,反映的是样品的表面形貌,空间感强,而背散射电子衬度主要反映样品表面原子序数的差异,如果存在非均匀相,在BSE像上能有明显的相区,一般金属多相样品会选择做背散射。
- 为什么要喷金?
如样品导电性不好,会造成样品表面多余电子或游离粒子的荷电,表现为一定程度后就反复出现充电放电现象,最终影响电子信号的传递,造成图像扭曲,变形、晃动等现象,喷金后样品表面导电增强,从而避免荷电现象。
案例展示
低倍背散射金相 高倍背散射金相 粉尘颗粒样品